zeta電位分析儀檢測(cè)原理：

　　一般情況下，Zeta電位儀直接測(cè)定的是電泳遷移率，并轉(zhuǎn)化為Zeta電位，Zeta電位是通過(guò)理論推導(dǎo)出來(lái)的。

　　當(dāng)電場(chǎng)施加于電解質(zhì)時(shí)，懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極，作用于粒子的粘性力傾向于對(duì)抗這種運(yùn)動(dòng)。當(dāng)這兩種對(duì)抗力達(dá)到平衡時(shí)，粒子以恒定的速度運(yùn)動(dòng)，我們一般稱這個(gè)速度通為電泳遷移率。通常在水性介質(zhì)和中等電解質(zhì)濃度下進(jìn)行Zeta電位的電泳測(cè)定法。

　　zeta電位分析儀是簡(jiǎn)單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器，其*的開(kāi)放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有較高的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得準(zhǔn)確而方便。高靈敏度、高精度地評(píng)價(jià)單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。該儀器被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測(cè)。